礦用真空度測試儀 故障點發(fā)生在電纜本體時，一般來說是容易判斷的，只要用閃絡(luò)法就可出現(xiàn)典型測試波形。但是如果故障點發(fā)生在電纜接頭或終端頭時，往往會發(fā)生判斷困難，而且還會發(fā)生一些無法解釋的反常現(xiàn)象。 　　接頭故障在測試中有可能會發(fā)生以下幾種情況： 　　① 初測時，故障點電阻值較低，無法作耐壓試驗，而加上沖擊高壓后，絕緣電阻會越來越高，而且用主機觀察時往往發(fā)現(xiàn)無故障點的反射回波，也就是故障點未被電離擊穿。 　　 ②在作沖擊高壓閃絡(luò)測量時，從球間隙的聲音來判斷，清脆響亮，似乎故障點是被擊穿了的，但從主機上觀察不到故障點反射波（這往往是故障點擊穿電弧爬距太大造成的）。 　　 ③作高壓預(yù)試時泄漏電流很大，閃絡(luò)電壓加到預(yù)試*大值時還未出現(xiàn)故障回波，并且隨著沖擊電流的加大，泄漏電流反而變小，絕緣電阻反而越高。 　　一般在測試時出現(xiàn)上述反常現(xiàn)象，則應(yīng)考慮到故障點可能在接頭處，應(yīng)用特殊的方法來處理。如用高壓沖擊電流“燒穿”，或加大貯能電容的容量，提高沖擊電壓等等。 　　真空滅弧室作為真空斷路器的核心部件，真空壓強，直接影響真空滅弧室的性能，為保證滅弧室的可靠工作，我國部標(biāo)（JB）技術(shù)中規(guī)定其真空壓強的允許*大值為1.33×10-2Pa 國標(biāo)(GB)中為6.6×10-2Pa。盡管現(xiàn)代電真空技術(shù)已能保證它們有10年及至20年的真空壽命。但是由于我國目前的生產(chǎn)條件和工藝水平，尚不能完全保證生產(chǎn)的真空滅弧室不漏氣。同時我國現(xiàn)有的真空滅弧室觸頭材料大多采用cucr，雖然cr 的吸氣性強，但當(dāng)采用傳統(tǒng)的粉末冶金法來制備cucr材料時，材料的含氣量還是比較高的。另外，由于制造時焊接工藝的質(zhì)量或運輸過程中，受震動或安裝操作上的不當(dāng)?shù)仍颍斐陕獾目赡苄砸彩谴嬖诘摹Ｒ虼耍婵諟缁∈抑瞥沙鰪S以后，并不能永遠(yuǎn)維持真空的壓強，而是有一定的真空壽命。隨著時間的增加，滅弧室外的真空度將降低。經(jīng)過嚴(yán)格電真空工藝處理的真空滅弧室，影響真空度的主要因素為工作表面的放氣與吸氣過程。隨著工作時間的增長，滅弧室的微漏氣也會導(dǎo)致其真空度下降。使絕緣和開斷性能降低，發(fā)展到一定程度，真空斷路器將喪失其工作能力。滅弧室真空狀況直接影響電力系統(tǒng)運行的安全性。因此，對服役真空滅弧室真空度測定尤為重要。 　　由本公司開發(fā)研制的ZKY-III真空度測試儀是一套計算機實時數(shù)據(jù)采集處理系統(tǒng)，它采用先進(jìn)的磁控放電技術(shù)，并利用先進(jìn)的單片機技術(shù)，配以專業(yè)設(shè)計的勵磁線圈，實現(xiàn)了現(xiàn)場不拆卸實時數(shù)據(jù)采集處理和微機同步監(jiān)視，測量精度高，數(shù)字化顯示，操作簡便，使用維護(hù)方便，檢測過程僅二十秒左右，為用戶掌握真空滅弧室真空狀態(tài)，有計劃的更換滅弧室提供了可靠依據(jù)。對電網(wǎng)的安全運行提供了有力的保障。 二、測試原理 　　將滅弧室的兩觸頭拉開一定的開距，施加脈沖高壓，將新型電磁線圈環(huán)繞于滅弧室外側(cè)，向線圈通以大電流，從而在滅弧室內(nèi)產(chǎn)生與高壓同步的脈沖強磁場和強電場的作用下，滅弧室中的電子做螺旋運動，并與殘余氣體分子發(fā)生碰撞電離，所產(chǎn)生的離子電流與殘余氣體密度即真空度近似成比例關(guān)系。對于不同的真空管型號（管型），同于其結(jié)構(gòu)不同，在同等觸頭開距，同等真空度，同等電場與磁場的條件下，離子電流間的對應(yīng)關(guān)系曲線。當(dāng)測知離了電流后，就可以通過查詢管型的離了電流一真空度曲線獲得該管型的真空度。這一過程由計算機自動完成。 三、性能指標(biāo) 　　1、適用范圍：各種型 號、電壓等級及材料真空管 　　2、開關(guān)開距：正常使用開距 　　3、檢驗范圍：10°～10-6 Pa 　　4、測量精度：優(yōu)于 5% 　　5、使用環(huán)境：-20℃～+40℃ 　　6、主機重量：7Kg 　　7、外形尺寸：380×280×250（mm） 四、技術(shù)參數(shù) 　　1、供電電壓：AC220V±10% 50Hz±1 　　2、脈沖高壓輸出：15KV 　　3、磁場電壓輸出：1200V 五、顯示模塊說明