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　　通過對水樹老化程度不同的XLPE電纜施加一個較低的直流階躍電壓，采用快速富里葉變換的方法對含水樹XLPE電纜的超低頻頻譜（0.1～0.001Hz）進行了分析，同時用電橋法記錄了在0.1Hz～3MHz頻率范圍電纜各老化階段的損耗頻譜。實驗顯示，用超低頻損耗檢測XLPE電纜的水樹化狀態的靈敏度較高，由于該方法施加的直流電壓較小，不會對電纜絕緣造成損傷，極有可能成為現場檢測XLPE電纜劣化狀態的有效手段。

　　介質損耗因數（tanδ）是用來描述介質材料不完善性及電氣設備絕緣性能的重要參數之一。一般而論，tanδ越大的絕緣材料或設備絕緣結構，其漏電損耗越大。按定義，某介質試樣或電氣設備試品的tanδ在數值上應等于在某種頻率的檢測電壓下流過該試樣的電阻性電流IR與流過該試樣的電容電流IC的比值。材料的tanδ值近似與所施加的試驗電壓角頻率成反比，或者說介質材料在低頻下應有較大的介質損耗因數。

　　由于一般情況下，電氣設備，特別是高壓設備的絕緣介質均采用優良介質制造，即使發生絕緣劣化，其工頻下的δ之值也非常小，因此tanδ測量屬精密微量測量，對測試設備的測量靈敏度要求較高。但在現場的強干擾情況下測量，采用同樣的測試設備的測量靈敏度要下降一個數量級以上，故而工頻現場測量電氣設備tanδ的難度很大。